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Materials

适用于HJT、HIT、TOPcon、双面PERC、PERC+太阳能电池等。

Si Perovskite and more

Features & Benefits

  • 寿命范围:20 ns 至 100 ms(适用于电阻率大于 0.3 欧姆·厘米的样品)

  • SEMI标准:PV9-1110

  • 测量速度:线扫描
    < < 30 秒,完整映射 5 分钟

  • 同时测量:μPCD/MDP(QSS)寿命和电阻率

  • 自动几何识别:G12、M10砖块及晶圆

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技术规格

材料单晶硅
锭尺寸125 x 125 至 210 x 210 毫米²,
砖长 850 毫米或更长
晶圆尺寸直径最大 300 毫米
电阻率范围0.5 – 5 欧姆·厘米。其他范围可按要求提供
导电类型p型、n型
可测量的物理特性寿命 - μPCD/MDP (QSS)、光导电率、电阻率等
默认激发lR 激光二极管(980 nm,最大 500 mW)和 IR 激光二极管(905 nm,最大 9000 mW)。
其他波长可根据要求提供
PC工作站Windows 11 或更高版本、.NET Framework 更新、2 个以太网端口
电源要求100 – 250 V AC,6 A
尺寸(宽 × 高 × 深)2560 × 1910 × 1440 毫米
重量约 200 公斤
认证按 ISO 9001 标准制造,符合 CE 认证

Accessories & Options

我们的设备提供多种配置选项,可有效满足具体需求。每款机型均可进行定制,以确保最大的灵活性和效率。

如需了解更多信息,请联系我们

  • 光斑尺寸波动

  • 电阻率测量(砖块/晶圆)

  • 背景/偏置光

  • 反射测量(MDP)

  • LBIC

  • p型掺杂硅的内部铁元素映射

  • P/N 检测

  • 条形码阅读器

  • 自动几何识别

  • 多种激光器

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欢迎随时联系我们——我们将竭诚为您解答任何疑问或处理您的请求。

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sales@freiberginstruments.com