Materials
借助SDCOM，可以对各种材料进行精确分析。凭借其灵活性和卓越性能，我们的系统甚至能够满足最苛刻的要求。
Ag Al₂O₃ (sapphire) AlSb Au CdTe GaAs GaN GaP GaPO₄ GaSb Ge InAs InP InSb La₃Ga₅SiO₁₄ LaTiO₃ LiF LiNbO₃ Mg₂SiO₄ MgAl₂O₄ MgF₂ MgO NdGaO₃ Ni PbS PbTe Pt Si SiC 2H SiC 4H SiC 6H SiC 15R SiC₃C SiO₂ (quartz) SnTe SrLaAlO₄ SrTiO₃ TiO₂ ZnO ZnTe and more
Features & Benefits
能够测量小至1毫米的微小晶体或更大的样品
提供多种样品夹具及用于线锯切割、研磨等工序的转运装置
可选晶体横向标记功能
无需水冷
最高精度：0.01°（取决于晶体质量）
单晶完整晶格取向的测定
使用 Omega-scan 方法进行超快速晶体取向测量
风冷X射线管，无需水冷
适用于研究及生产质量控制
手动操作（无自动化选项）
Crystal orientation is determined by reflex position
suitable for a vast variety of materials
