θ扫描

该方法的优点在于衍射仪对准过程相对简单且具有灵活性。其缺点是测量时间较长（数分钟）以及难以找到足够的衍射峰。

为确定完整的晶体取向，至少需要在两个不同的晶面进行成功的θ扫描。这些衍射峰应能在不移动样品的情况下被衍射仪检测到。

测量步骤

将X射线束与探测器之间的角度设定为特定晶面反射条件，该条件由布拉格方程给出。为获取该反射峰，需同步移动X射线源和探测器，同时旋转样品。随后根据反射峰的位置计算出该晶面法线的方向。 该方法尚无特定名称，因此我们将其称为“θ扫描法”。