多元测量方案,助力加速您的研发进程
作为德国弗赖贝格工业大学的校办衍生企业,Freiberg Instruments 拥有深厚的科研底蕴,始终与各领域科研合作伙伴开展联合研究项目,为科研界打造专业测量工具。
我们的设备配备丰富选件与配件,可根据您的研究需求提供定制化方案;Freiberg Instruments 甚至可提供完全定制化的专属解决方案,助力您开展顶尖科研工作。

核心优势
缺陷特性精准测定
支持宽温区变温测量,可测定缺陷的活化能。
高精度与高重复性
全系列产品、标样与校准证书均具备高重复性与高再现性,确保测量结果可溯源至最高行业标准
高速高灵敏度测量
晶体定向与寿命测量的灵敏度与测量速度行业领先。
多形态样品适配
支持各类几何形态的样品,从最长 850mm 的大尺寸晶锭到厚度 1μm 及以下的薄膜均可测量。
变温测量
研究半导体中的缺陷时,变温测量法是测定缺陷活化能的理想方法。传统变温测量方法通常需要在样品上制备接触电极,工艺复杂,且退火步骤往往会改变样品本身的性质。
MDpicts 是一种无损、无接触的测量方法,可高精度测定缺陷的活化能与俘获截面。
表面与体质量检测
区分体质量与表面质量是寿命测量的主要挑战之一。
Freiberg Instruments 提供多种具有不同穿透深度、脉宽的波长选择,可实现体寿命的估算。




