快速、非接触式分析电光材料的基本特性:SPS/SPV 系列

表面光电压光谱学(SPS/SPV)是一种经过验证的技术,用于分析电光材料中的体相、界面及表面特性。该技术以往仅应用于专业实验室,市面上的市面商业化设备较少,且往往仅限于特定领域。

Freiberg Instruments 的 HR-SPS 平台通过高分辨率、非接触式分析,重新定义了材料表征标准,几乎适用于任何电光材料——从粉末样品、纳米粒子结构到 300 毫米硅晶圆。该平台兼顾生产与研究需求,可为制造工艺和材料创新提供快速、精准的评估。

其应用范围涵盖半导体(硅、碳化硅以及氧化镓和金刚石等宽禁带半导体)的缺陷表征光催化剂(氧化铜和氧化钛)的电荷动力学分析等,HR-SPS 为 SPV 分析带来了无与伦比的多功能性和效率。

借助 HR-SPSmap 系统,依托先进的非接触式检测技术,可快速、精准地分析半导体及光敏材料性能。

Dr. Nadine Schüler
研发总监

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