微波探测光电导

µPCD/MDP(QSS) - 用于研究和生产的高分辨率、非接触式测量解决方案，让您深入了解材料：MDP 系列

通过广泛应用的先进微波技术，实现了半导体质量的可视化。这些技术能够以生产速度对半导体的关键电学参数进行非接触式测绘。 

通过目前无与伦比的空间分辨率、灵敏度和测量速度的结合，可对少数载流子寿命、光导电率、电阻率及缺陷信息等参数进行映射。

从OEM模块到交钥匙系统，MDP系列可灵活适配您的工作流程——助力您在微电子和光伏领域的下一次创新。