无损、灵活、快速，助力薄膜及表面先进材料研究
采用先进的电子检测系统，灵敏度高
可定制激光器与光学组件，适配多达4个波长
自动控温测量及退火功能，单次最多可测量25个样品
Materials
SPSmap Heat 配备多规格可选激发激光器，可对几乎所有半导体进行电学表征。
Perovskite Si SiC Ge GaAs InP Ga₂O₃ Diamond
Features & Benefits
355...1550 n
可用波长
0.1 mm
空间分辨率
10 ns
时间分辨率
最多
25 个样品
自动测量和加热序列
Applications
技术规格
| 样品尺寸 | 晶圆或薄片，厚度≤25 mm，面积5×5 mm²～160×160 mm²，支持方形晶圆 |
|---|---|
| 激发 | 可在 337 nm 至 1550 nm 范围内，最多选择四种不同波长（默认 980 nm） |
| 材料 | 钙钛矿或各类光敏材料（材料适配问题，请联系我们） |
| 可测量 | 时间分辨及变温表面光电压测量 |
| 尺寸 | 750 x 835 x 660 mm |
| 重量 | 约 120 公斤 |
| 电源 | 100 - 250VAC，50/60 Hz，5 A |
| 分辨率 | 100 µm |
