Steffen Fengler 等. 基于调制表面光电压光谱法研究的高温高压金刚石中缺陷的有效吸收截面，《Phys. Status Solidi A》2025
A.S. Kovali, M. Demant, B. Rebba, N. Schüler, J. Haunschild, S. Rein
基于MDP砖体表征的硅锭早期质量评估
Jan Beyer、Nadine Schüler、Jürgen Erlekampf、Birgit Kallinger、Patrick Berwian、Kay Dornich、Johannes Heitmann
基于时间分辨光致发光和微波检测光导度的 4H-SiC 外延片少数载流子寿命测量
Paul M. Jordan、Daniel K. Simon、Franz P.G. Fengler、Thomas Mikolajick 和 Ingo Dirnstorfer
硅衬底上 Al2O3 的化学和场效应钝化二维映射
保罗·M·乔丹、丹尼尔·K·西蒙、托马斯·米科拉吉克和英戈·迪恩斯托弗
BiasMDP：施加偏压的载流子寿命表征技术
N. Schüler、B. Berger、A. Blum、K. Dornich、J.R. Niklas 利用MDP对P型掺杂多晶砖中铁的高分辨率在线形貌分析
K. Dornich、N. Schüler、J.R. Niklas 采用可变脉冲长度的注入依赖寿命光谱法
K. Dornich, N. Schüler, B. Berger, J.R. Niklas 基于MDP的光伏应用快速、高分辨率、在线非接触式半导体电学表征
Bastian Berger、Nadine Schüler、Sabrina Anger、Bianca Gründig-Wendrock、Jürgen R. Niklas、Kay Dornich
：基于微波检测光诱导电流瞬态光谱（MD-PICTS）和微波检测光导度（MDP）的半导体非接触式电学缺陷表征
N. Schüler、T. Hahn、K. Dornich 和 J.R. Niklas：
利用微波检测光导电
法对 P 型掺杂硅中捕获参数进行空间分辨测定 第 25 届 EUPVSEC 会议，西班牙瓦伦西亚
N. Schüler、D. Mittelstrass、K. Dornich 和 J.R. Niklas：
通过非接触式光导电性测量
对多晶硅导电类型变化进行高分辨率在线检测 第35届IEEE光伏专家会议，夏威夷檀香山
N. Schüler、D. Mittelstrass、K. Dornich、J.R. Niklas 和 H. Neuhaus：
用于光伏
的多晶硅砖块的下一代在线少数载流子寿命测量技术 第35届IEEE光伏专家会议，夏威夷檀香山
N. Schüler、T. Hahn、K. Dornich、J.R. Niklas：
用于半导体
电学表征的多功能仿真工具与新型测量方法，《固态现象》156-158、241-246 (2010)
N. Schüler, T. Hahn, S. Schmerler, S. Hahn, K. Dornich 和 J.R. Niklas：
稳态与非稳态测量
中光导电性和寿命的模拟，《应用物理学杂志》107 (2010), 064901
N. Schüler、T. Hahn、K. Dornich、J.R. Niklas、B. Gründig-Wendrock：
厚硅样品
非接触式寿命测量方法的理论与实验比较，《太阳能材料与太阳能电池》94 (2010)，1076-1080
K. Dornich, N. Schüler, D. Mittelstraß, A. Krause, B. Gründig-Wendrock, K. Niemietz 和 J.R. Niklas：
用于光伏的多晶硅新型空间
分辨在线测量（将发表于第24届欧盟光伏科学会议（EU PVSEC）论文集）
S. Schmerler、T. Hahn、S. Hahn、J.R. Niklas、B. Gründig-Wendrock：
SI-GaAs中正负PICTS峰值的解释，
《材料科学：材料电子学》
T. Hahn、S. Schmerler、S. Hahn、J.R. Niklas：
通过广义速率方程
解释寿命和缺陷光谱测量结果，《材料科学杂志：材料电子学》（2008）19:S79-S82
K. Niemietz、K. Dornich、M. Gosh、A. Müller、J.R. Niklas
：低注入水平
下多晶硅（mc-Si）电学性质与缺陷光谱的非接触式研究 第21届欧洲光伏太阳能会议，第361-364页
K. Dornich、K. Niemietz、Mt. Wagner、J.R. Niklas
通过 MD-PICTS
对硅进行非接触式电缺陷表征 《半导体加工中的材料科学》，Elsevier，241-245
S. Hahn, Franziska Christine Beyer, Andreas Gällström, Patrick Carlsson, Anne Henry, Björn Magnusson, J.R. Niklas, Erik Janzén
半绝缘 6H-SiC 体材料的非接触式电学缺陷表征
《材料科学论坛》 600-603, 405 (2009)。
S. Hahn, K. Dornich, T. Hahn, A. Köhler, J.R. Niklas, P. Schwesig, G. Müller
退火SI InP
晶圆的非接触式缺陷研究 《半导体加工中的材料科学》第9卷，爱思唯尔，355-358
K. Dornich, T.Hahn, J.R. Niklas