解决方案

在晶体取向和加工方面实现无与伦比的精度。 

我们先进的X射线衍射（XRD）系统可优化研磨和锯切工艺，确保完美对准，满足高性能半导体应用的需求。

发现

通过精确的薄膜表征，确保半导体前端工艺达到最高标准。

我们的无损测量工具可提供有关晶圆特性、层厚及缺陷检测的关键信息。

发现

借助我们业界领先的计量解决方案，最大限度地提高太阳能电池的效率。

我们先进的工具支持对晶圆和薄膜进行高速、高精度的分析，确保最佳的良率和生产性能。

发现

为研究人员提供高精度夜光测年工具，用于测定年龄和评估辐射暴露。

我们的仪器在地质年代学和剂量学应用中具备无与伦比的灵敏度和可靠性。

发现

借助尖端的辐射检测系统，提升工作场所和环境的安全性。 

我们的解决方案提供实时监测，确保在关键的工业和科研环境中符合规范并保障安全。

发现

借助专为研发应用量身定制的灵活、高精度测量解决方案，加速创新进程。 

我们先进的计量工具以最高精度支持材料研究、半导体开发及缺陷分析。

发现