可对深层材料缺陷进行根本原因分析：无破坏、灵活而精确
调查深度缺陷的高温
为您的所有材料量身定制激光和光学集成系统
全自动温度测量
Materials
HTpicts 专注于宽禁带半导体中的深缺陷研究
SiC GaN AIN Ga₂O₃ Diamond and more
Features & Benefits
355-1550 纳米
可用波长
10 ns
时间分辨率
300-800 K
温度范围
广泛
分析
大型软件包
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