PID 技术

在实际应用中，组件的前玻璃表面与太阳能电池之间可能会产生较大的电位差，从而导致硅太阳能电池的p-n结发生短路，进而引起电阻降低和功率输出下降。 [1] 提出了以下模型：组件中存在的高场强导致 Na+ 通过 SiNx 层漂移。Na 离子在 SiNx/Si 界面 (SiOx) 处横向扩散，并装饰堆垛错位。…

与其他方法相比，PIDcon测试具有以下优势：测试时间短（通常为4–8小时）, 测试条件多样：可测试太阳能电池、微型组件、玻璃及EVA, 测试控制性良好，尤其相较于电晕测试, 单次测试成本极低,

如需了解更多信息，请参阅：[1] V. Naumann，《硅太阳能电池电势诱导退化的原因分析与物理建模》，博士论文，马丁·路德·哈勒-维滕贝格大学（2014年）

此外，建议在完成PID测试后采用简单的“通过/不通过”判定标准。假设PID测试结束时效率损失达到3%，则视为太阳能电池测试不合格（依据IEC标准）。 因此，测量时间为室温下168小时或85 °C下72小时（“长”方案）。 3%的效率损失相当于测试区域内电池电导率增加150 mS，即相对于100 cm²的电极面积，电导率为1.5…