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使现有设备能够达到 200 毫米和 300 毫米铸锭的高端外径/缺口规格
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真正符合晶圆厂要求的在线晶圆方向映射
用于超快晶体定向、生产中的晶体对准、质量控制、摇摆曲线测量、材料研究等
超快、底面测量晶体取向的紧凑型封装
超快顶面测量晶体取向,采用紧凑型封装
全自动在线定位和处理铸锭、铸锭块和铸锭球
Fully automated wafer, seed wafer and boule quality control and…
石英棒、晶片和坯料的生产与质量控制
该产品即将推出
用于精确材料分析的高精度电阻率绘图系统
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精确的终生特征描述,卓越的灵敏度
快速简便的寿命测量变得简单易行
多功能 OEM 设备,用于测量硅样品(从硅砖到加工晶片)的使用寿命
用于半导体质量控制和材料研发的先进寿命测量系统
先进的单晶硅锭、硅砖和硅片质量控制解决方案
用于先进材料分析的温度相关寿命测量系统
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高分辨率、高灵敏度的表面光电电压测量解决方案
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专为集成到手套箱中而设计,可加热至 100°C,高分辨率,灵敏的表面电压测量
宽范围双棱镜单色仪
专为智能生产环境设计的 GWh 级电池化成和测试
利用智能测量驱动的过程控制进行中试规模的电池化成和测试
集成传感和先进的充电控制,实现智能化、测量驱动的电池组装
双面 PERC/PERC+、HIT、Topcon、晶体硅太阳能电池、迷你模块等的质量控制解决方案
最灵敏的 TL/OSL 读取器
最先进的 TL/OSL 阅读器
便携式 OSL 读取器,设计用于高效读取和*擦除兼容的剂量计
最先进的个人剂量测定 OSL 系统
Freiberg Instruments 的现代 TLD 阅读器
即使在极端条件下也能进行高精度吸附测量的磁悬浮天平
用于聚合物和半导体分拣的全自动高灵敏度拉曼传感器
辐射污染监测仪
用于测量集装箱的空间分辨探测杆
高量程剂量率仪
配备 50 毫米 PIPS 检测器的便携式设备;符合 ISO 11929 标准的浓度计算方法
伽马辐射监测仪
PID 易感性受温度、电压、封装材料和太阳能电池氮化硅层等因素的影响
加热板温度越高,太阳能电池的劣化速度就越快。遗憾的是,如果温度超过 60 °C,EVA 薄膜会因粘连而对太阳能电池造成无法修复的损坏。另一方面,这种层压工艺最能模拟组件的实际工作状态。
使用更高电压会加速电池的衰减。若需快速衰减,建议使用1000 V;若电压差为600 V,电池间的差异则会呈现更精细的梯度。需要说明的是,电压始终为负值,因此PIDcon系统适用于p型电池。
湿度对降解结果的影响微乎其微,因为玻璃和EVA被压合在太阳能电池上,确保了全面积接触。但如果电池具有抗PID性能,湿度的微小变化可能会导致测得的并联电阻出现可观测的微小变化,这是因为金针与太阳能电池之间的接触电阻发生了变化。
光线对PID测量有巨大影响。必须确保在测量过程中挡板和盖板处于关闭状态。此外,应避免在PIDcon设备周围放置强光源。下图展示了这些因素对电阻曲线的影响。第一种情况下,设备的挡板被打开并关闭;第二种情况下,盖板被掀起,使其与底板之间形成5毫米的间隙,同时在系统前方放置了一盏强光照明灯,并对其进行开关操作。
文献表明,采用石英玻璃或低碱玻璃的组件对PID不敏感。如图1所示,硼酸盐玻璃也非常适合用于抗PID的组件。决定PID敏感性的关键并非钠浓度,而是玻璃两侧的电阻率。
不同类型的封装膜似乎都适用于抗PID的组件(例如聚乙烯丁醛(PVB)、热塑性硅橡胶(TPSE)、聚乙烯(PE))。 与玻璃类似,聚合物薄膜的高电阻率似乎也能带来抗PID性能。
如需了解更多信息,请参阅:[1] V. Naumann,《硅太阳能电池电势诱导退化的原因分析与物理建模》,博士论文,马丁·路德·哈勒-维滕贝格大学(2014年)
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