MDP（微波检测光导电性）：对移动的光生载流子敏感（体特性）
SPV（表面光电压）：对与空间上分离的任何光生载流子（无论是移动的还是被困住的）相关的表面和体特性均敏感
MDP方法仅适用于中等掺杂的半导体或接近完美光学晶体
SPV 方法适用于任何允许电荷在空间中分离的光活性材料（半导体、多层和多结结构、分子层、粉末）
MDP 方法可建模为时变电阻测量（直流），即 tMDP
SPV 方法可建模为频率和时间依赖的电容测量（直流/调制），即 tSPV
对于非理想半导体（含缺陷），这两种方法的结果可能存在巨大差异，但二者均能提供关于体相和表面性质的互补信息
