Matériaux
Pour les cellules solaires HJT, HIT, TOPcon, PERC bifaciales, PERC+ et bien d'autres encore.
Fonctionnalités et avantages
Plage de durées de vie : 20 ns à 100 ms (pour les échantillons > 0,3 Ohm·cm)
Norme SEMI : PV9-1110
Vitesse de mesure : < 30 s pour un balayage
< linéaire ; 5 min pour une cartographie complète
Mesure simultanée de : durée de vie μPCD/MDP (QSS) et résistivité
Reconnaissance géométrique automatique : briques G12, M10 et plaquettes
Applications
Spécifications techniques
| Matériau | silicium monocristallin |
|---|---|
| Dimensions du lingot | entre 125 x 125 et 210 x 210 mm², longueur de la brique de 850 mm ou plus |
| Dimensions des plaquettes | jusqu'à 300 mm de diamètre |
| Plage de résistivité | 0,5 – 5 Ohm cm. Autres plages sur demande |
| Type de conductivité | p, n |
| Propriétés mesurables | durée de vie - μPCD/MDP (QSS), photoconductivité, résistivité et plus encore |
| Excitation par défaut | Diode laser IR (980 nm, max. 500 mW) et diode laser IR (905 nm, max. 9000 mW). D'autres longueurs d'onde sont disponibles sur demande |
| Poste de travail PC | Windows 11 ou version plus récente, mise à jour .NET Framework, 2 ports Ethernet |
| Alimentation | 100 – 250 V CA, 6 A |
| Dimensions (L × H × P) | 2560 × 1910 × 1440 mm |
| Poids | env. 200 kg |
| Certification | Fabriqué selon les directives ISO 9001, conforme CE |

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Technologies
Accessoires et options
Nos appareils offrent des options de configuration polyvalentes permettant de répondre efficacement à des besoins spécifiques. Chaque modèle peut être personnalisé afin de garantir une flexibilité et une efficacité optimales.
Variation de la taille du spot
Mesure de la résistivité (briques/plaquettes)
Lumière de fond/de polarisation
Mesure de réflexion (MDP)
LBIC
Cartographie interne du fer dans le Si dopé p
Détection P/N
Lecteur de codes-barres
Reconnaissance géométrique automatique
Large gamme de lasers
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