Avec MDPmap, il est possible de mesurer non seulement des courbes de durée de vie en fonction de l'injection, mais aussi des courbes de photoconductivité sur une très large plage d'injection.
Dans le MDPmap et le MDPingot, il est possible d'intégrer jusqu'à 4 lasers différents, ce qui permet de mesurer non seulement des courbes de durée de vie en fonction de l'injection, mais aussi des courbes de photoconductivité sur une très large plage d'injection. La figure 1 présente une comparaison de la plage d'injection typique de différentes méthodes connues de mesure de la durée de vie. Grâce à leur sensibilité extraordinaire, le MDPmap et le MDPingot sont capables de mesurer sur sept décades d'injection. Grâce aux mesures de la lumière de polarisation et de la réflexion, une très bonne précision a pu être considérablement améliorée.
Avec le MDPmap, l'ensemble de la plage d'injection importante peut être couverte à l'aide d'une seule méthode, comme le montre la figure 2 pour deux points différents sur une plaquette de silicium monocristallin (mc-Si) passivée au SiNx. Jusqu'à présent, il était nécessaire d'utiliser plusieurs méthodes différentes, qui ne pouvaient souvent pas être comparées entre elles. Avec le MDP, il est possible d'accéder facilement aux courbes de durée de vie dépendantes de l'injection.
Pour plus d'informations, veuillez consulter :
[1] S. Rein, Lifetime Spectroscopy - A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications, Vol. 85 (Springer, Berlin Heidelberg, 2005)
Bulklifetime versus injection for a varying symmetry factor and energy level
Fig. 1: Comparison of typical injection ranges of different measuring methods Fig. 2: injection dependent lifetime measurements on 2 different spots on a SiNx passivated mc-Si wafer
Solutions et secteurs industriels associés: Couches épitaxiées et couches minces
