Permet une recherche avancée sur les matériaux pour les couches minces et les surfaces : sans destruction, flexible et rapide
Très sensible grâce à un système de détection électronique avancé
Lasers et optiques personnalisés pour jusqu'à 4 longueurs d'onde différentes
Mesure automatique en fonction de la température et/ou étapes de recuit pour un maximum de 25 échantillons
Matériaux
La gamme SPSmap Heat propose une sélection variée de lasers performants et permet la caractérisation électrique de presque tous les semi-conducteurs
Perovskite Si SiC Ge GaAs InP Ga₂O₃ Diamond
Fonctionnalités et avantages
355...1550 nm
Longueurs d'onde disponibles
0,1 mm
Résolution spatiale
10 ns
Résolution temporelle
Jusqu'à
25 échantillons
Séquence automatique de mesure et de chauffage
Applications
Spécifications techniques
| dimensions des échantillons | plaquettes ou lames minces d'une épaisseur maximale de 25 mm, de 5 x 5 mm² à 160 x 160 mm, plaquettes carrées |
|---|---|
| excitation | sélectionnez jusqu'à quatre longueurs d'onde différentes comprises entre 337 nm et 1550 nm (par défaut 980 nm) |
| Matériau | Pérovskite ou tout autre matériau photoactif (contactez-nous pour une consultation sur votre matériau) |
| mesurable | Mesures de phototension de surface résolues en temps et en fonction de la température |
| Dimensions | 750 x 835 x 660 mm |
| poids | env. 120 kg |
| alimentation | 100 - 250 V, 50/60 Hz, 5 A |
| Résolution | 100 µm |
