Omega/Theta XRD

Diffractomètre pour monocristaux

• Mesure entièrement automatisée de l'orientation complète du réseau cristallin des monocristaux

• Mesure ultra-rapide de l'orientation cristalline à l'aide de la méthode Omega-scan

• Mesure automatisée de la courbe de basculement

• Résolution angulaire du diffractomètre : 0,1 seconde d'arc

• Taille d'échantillon jusqu'à 450 mm

• Convient au contrôle qualité en production et à la recherche

Convivial et économique

• Manipulation pratique des échantillons et utilisation simple

• Logiciel avancé et convivial

• Faible consommation d'énergie et coûts d'exploitation réduits

Conception modulaire et flexibilité

• Diverses options de mise à niveau

• Personnalisation en fonction des besoins des utilisateurs

Méthode Omega-Scan éprouvée

Le diffractomètre à rayons X Omega/Theta est un diffractomètre vertical à trois axes entièrement automatisé permettant de déterminer l'orientation de divers cristaux à l'aide des méthodes Omega-Scan et Theta-Scan, ainsi que par des mesures de courbes de balancement. Sa conception spacieuse permet d'accueillir des échantillons et des porte-échantillons mesurant jusqu'à 450 mm de longueur et pesant jusqu'à 30 kg.

Toutes les mesures sont automatisées et accessibles via une interface logicielle conviviale. Grâce à l'Omega-Scan, l'orientation complète du réseau cristallin peut être déterminée en une seule rotation du cristal (5 secondes). Le Theta-Scan est plus flexible, mais ne fournit qu'une seule composante d'orientation par balayage.

L'angle d'inclinaison peut être déterminé avec une très grande précision, jusqu'à 0,001° à l'aide de la méthode Theta-Scan. Pour toutes les autres directions cristallines, la précision dépend de la différence angulaire par rapport à la perpendiculaire à la surface.

Le système est modulaire et a été équipé de nombreuses extensions différentes pour des applications spécialisées telles que la détermination de la forme ou de la planéité, la cartographie et divers porte-échantillons. L'inclinaison de l'échantillon est détectée par une mesure optique et peut être utilisée pour corriger l'orientation obtenue.