La spectroscopie de phototension de surface (SPS/SPV) est une technique éprouvée permettant d'analyser les propriétés intrinsèques, interfaciales et de surface des matériaux électro-optiques. Traditionnellement réservée aux laboratoires spécialisés, les solutions SPV disponibles sur le marché restent rares et souvent limitées à des applications de niche.
La plateforme HR-SPS de Freiberg Instruments redéfinit la caractérisation des matériaux grâce à une analyse haute résolution sans contact pour pratiquement tous les matériaux électro-optiques – des échantillons à base de poudre aux structures de nanoparticules, en passant par les plaquettes de silicium de 300 mm. Conçue à la fois pour la production et la recherche, elle permet des évaluations rapides et précises pour la fabrication et l'innovation en matière de matériaux.
Avec des applications allant de la caractérisation des défauts dans les semi-conducteurs (silicium, carbure de silicium et semi-conducteurs à large bande interdite comme l'oxyde de gallium et le diamant) à l'analyse de la dynamique des charges dans les photocatalyseurs (oxyde de cuivre et oxyde de titane), et bien au-delà, HR-SPS apporte une polyvalence et une efficacité inégalées à l'analyse SPV.
