SDCOM

Mesure ultra-rapide de la surface supérieure de l'orientation du cristal dans un boîtier compact

Exclusivement par l'intermédiaire de Malvern Panalytical

Fiche produit

Matériaux

Avec SDCOM, il est possible d'analyser avec précision une grande variété de matériaux. Grâce à leur flexibilité et à leurs performances, nos systèmes répondent aux exigences les plus strictes.

Ag Al₂O₃ (sapphire) AlSb Au CdTe GaAs GaN GaP GaPO₄ GaSb Ge InAs InP InSb La₃Ga₅SiO₁₄ LaTiO₃ LiF LiNbO₃ Mg₂SiO₄ MgAl₂O₄ MgF₂ MgO NdGaO₃ Ni PbS PbTe Pt Si SiC 2H SiC 4H SiC 6H SiC 15R SiC₃C SiO₂ (quartz) SnTe SrLaAlO₄ SrTiO₃ TiO₂ ZnO ZnTe and more

Fonctionnalités et avantages

Capacité à mesurer des cristaux de très petite taille (jusqu'à 1 mm) ou des échantillons plus volumineux
Large gamme de porte-échantillons et de dispositifs de transfert pour la sciage au fil, le meulage, etc.
Option de marquage de l'orientation latérale du cristal
Pas de refroidissement à l'eau
Précision maximale : 0,01° (en fonction de la qualité du cristal)
Détermination de l'orientation complète du réseau cristallin des monocristaux
Mesure ultra-rapide de l'orientation cristalline à l'aide de la méthode Omega-scan
Tube à rayons X refroidi par air, aucun refroidissement par eau requis
Convient à la recherche et au contrôle qualité en production
Manipulation manuelle (pas d'option d'automatisation)