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Permet l'analyse des causes profondes des défauts des matériaux : sans destruction, flexible et précis

  • Haute résolution spatiale

  • Intégration laser et optique personnalisée pour tous vos matériaux

  • Nouveau cryostat pour les échantillons jusqu'à 4''.

Matériaux

Le MDpicts pro permet la caractérisation électrique de la quasi-totalité des semi-conducteurs

Si SiC Ge GaAs Ga₂O₃ InP Diamond and more

Fonctionnalités et avantages

355-4600 nm

Longueurs d'onde disponibles

10 ns

Résolution temporelle

83-300 K

Plage de température

10 µm

Résolution spatiale

10 µm

Résolution spatiale

Intéressé ? Nos experts sont heureux de vous aider.

Spécifications techniques

plage de température83 – 350 K
taille des échantillonsjusqu'à des plaquettes de 4 pouces petits morceaux de plaquettes
résistivité0,2 - >1010 Ωcm
Type de conductionp, n
durée de vie des porteurs minoritaires20 ns – 100 ms
propriétés mesurablesdurée de vie, photoconductivité, énergie d'activation, etc.
excitation355 – 4600 nm

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