La visualisation de la qualité des semi-conducteurs est rendue possible grâce à des techniques micro-ondes de pointe. Celles-ci permettent de cartographier les principaux paramètres électriques des semi-conducteurs sans contact et à la vitesse de production.
La mesure de paramètres tels que la durée de vie des porteurs minoritaires, la photoconductivité, la résistivité et les informations sur les défauts peut être cartographiée grâce à une combinaison jusqu'ici inégalée de résolution spatiale, de sensibilité et de vitesse de mesure.
Des modules OEM aux systèmes clés en main, la série MDP s'adapte à votre flux de travail, vous permettant ainsi de concrétiser votre prochaine innovation en microélectronique et en photovoltaïque.
