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Permet une recherche avancée sur les matériaux pour les couches minces et les surfaces : sans destruction, flexible et rapide

  • Très sensible grâce à un système de détection électronique avancé

  • Lasers et optiques personnalisés pour jusqu'à 4 longueurs d'onde différentes

  • Étude des processus de séparation des charges et des transitions électroniques (défauts)

Matériaux

Si SiC Ge GaAs Ga₂O₃ InP Diamond and more

Fonctionnalités et avantages

355-1550 nm

Longueurs d'onde disponibles

10 ns

Résolution temporelle

0,1 mm

Résolution spatiale

< 5 min

Cadence pour les plaquettes de 8 pouces

< 5 min

Cadence pour les plaquettes de 8 pouces

  • Sensibilité : sensibilité de l'ordre du sous-mV et résolution de l'amplitude du signal supérieure à 3 ordres de grandeur

  • Vitesse de mesure : < 5 minutes pour une plaquette de 150 mm avec une résolution de 1 mm

  • Résolution temporelle : de 10 ns à 100 ms

  • Tête optique : jusqu'à 4 sources lumineuses intégrées à la tête optique ou au support pour le montage de lasers externes – suppression intégrée de la lumière parasite

  • Fiabilité : instrument de paillasse modulaire et compact offrant une fiabilité élevée et un temps de fonctionnement > 99 %

Outil de cartographie flexible pour la R&D et le suivi de la production

La plateforme de produits HR-SPSmap s'appuie sur les bases éprouvées de la série MDPmap, largement plébiscitée. Cet outil de caractérisation électrique compact, de paillasse et sans contact est spécialement conçu pour le contrôle de production hors ligne et les applications de recherche et développement. Il mesure la phototension de surface (SPV) sur une large plage d'injection, prenant en charge à la fois l'excitation en régime permanent et l'excitation par impulsions courtes. Grâce à la reconnaissance automatisée des échantillons et à la configuration automatisée des paramètres, il s'adapte sans effort à une grande variété d'échantillons, y compris les couches épitaxiales et les plaquettes à différents stades de traitement, du matériau tel qu'il est obtenu à la sortie du four jusqu'aux dispositifs entièrement fabriqués.

Flexibilité exceptionnelle et fonctionnalités avancées

L'un des principaux atouts du HR-SPSmap réside dans son exceptionnelle flexibilité. Équipé de sources d'excitation à énergie fixe, le système prend en charge l'intégration de jusqu'à quatre lasers au sein de la tête de mesure. Cette capacité facilite les mesures de SPV en fonction du niveau d'injection sur une large plage, allant de niveaux d'injection très bas à élevés, et permet le profilage en profondeur à l'aide de différentes longueurs d'onde laser. Le système comprend également une fonction de lumière de polarisation pour des options de mesure améliorées.

De plus, l'HR-SPSmap prend en charge les calculs personnalisés et les configurations de cartographie, ainsi que la possibilité d'exporter des données brutes pour une analyse externe détaillée. Pour les tâches de métrologie standard, la plateforme offre un système de recettes prédéfinies, permettant d'effectuer des mesures de routine d'une simple pression sur un bouton.

Précision et adaptabilité

Grâce à ses capacités avancées et à sa conception conviviale, le HR-SPS est la solution idéale pour les chercheurs et les équipes de production à la recherche de mesures de phototension de surface de haute précision. Que ce soit pour l'innovation en R&D ou pour une surveillance fiable de la production, cette plateforme redéfinit la flexibilité et l'efficacité en matière de caractérisation électrique.

Intéressé ? Nos experts sont heureux de vous aider.

Spécifications techniques

taille des échantillonséchantillons de poudre d'un diamètre maximal de 300 mm
excitationsélectionnez jusqu'à quatre longueurs d'onde différentes comprises entre 337 nm et 1550 nm (par défaut 980 nm)
matériautout matériau photoactif (contactez-nous pour obtenir des conseils sur votre matériau)
mesurablemesures de phototension de surface résolues en temps
Dimensions680 x 380 x 450 mm, poids : env. 65 kg
alimentation100 - 250 V, 50/60 Hz, 5 A
résolution100 µm

Accessoires et options

Nos appareils offrent des options de configuration polyvalentes permettant de répondre efficacement à des besoins spécifiques. Chaque modèle peut être personnalisé afin de garantir une flexibilité et une efficacité optimales.

Contactez-nous pour plus d'informations

  • Large gamme de sources lumineuses laser allant de 337 nm à 1 550 nm

  • Platine chauffante intégrée (20-250 °C)

  • Variation de la taille du spot

  • Éclairage de fond

  • Mesure de la résistivité (plaquettes)

  • Wafer de référence (Si)

Prendre contact

N'hésitez pas à nous contacter : nous sommes à votre disposition pour répondre à toutes vos questions ou demandes.

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sales@freiberginstruments.com