Nous développons actuellement des outils de simulation permettant d'effectuer des calculs de première principe de la structure électronique d'un matériau photoactif donné ou d'une combinaison de matériaux, sur la base de la physique des solides.
L'outil de simulation SPS/SPV permet aux utilisateurs de tout équipement SPS/SPV de vérifier leurs mesures par rapport à des scénarios simulés. Cela permet, par exemple, de réduire le temps de développement pour la recherche sur de nouveaux matériaux et/ou de tester les tolérances d'une configuration donnée de matériau photoactif.
Toutes les réponses transitoires peuvent être ajustées entre 10 ns et 100 ms à l'aide de la fonction d'ajustement multiparamétrique intégrée à base d'exponentielles étirées, avec trois paramètres de base : tI, βi et Ai, où t est la constante de temps transitoire, β est le facteur d'étirement de la fonction exponentielle et A est l'amplitude du signal. Le nombre de paramètres i peut dans la plupart des cas être limité à 2 (c'est-à-dire i = 1, 2) ; 5 est rare, mais parfois nécessaire pour des structures complexes. En principe, un ajustement avec i = 1,…,12 est possible.
La figure 1 montre un exemple d'utilisation de la SPV pour la caractérisation radiale de défauts superficiels proches de la bande de conduction dans une plaquette de silicium de type « float zone », à l'aide d'une fonction d'ajustement constituée de la somme de 5 fonctions exponentielles étirées.
