Permet l'analyse des causes profondes des défauts matériels : sans destruction, flexible et précis
Températures élevées pour l'étude des défauts profonds
Intégration laser et optique personnalisée pour tous vos matériaux
Mesures entièrement automatisées en fonction de la température
Matériaux
HTpicts est spécialisée dans l'étude des défauts profonds dans les semi-conducteurs à large bande interdite
SiC GaN AIN Ga₂O₃ Diamond and more
Fonctionnalités et avantages
355-1550 nm
Longueurs d'onde disponibles
10 ns
Résolution temporelle
300-800 K
Plage de température
Très large
l'analyse
Suites logicielles