Permet une évaluation rapide et facile de la durée de vie en un seul point
Mesure en un seul point
Plaquettes et lingots
Outil flexible et peu coûteux
Matériaux
Découvrez une simplicité et une rapidité inégalées pour la caractérisation à vie de presque tous les semi-conducteurs grâce à MDPspot, conçu pour rationaliser votre flux de travail sans compromettre la précision.
Fonctionnalités et avantages
355-1550 nm
Longueurs d'onde disponibles
10 ns
Résolution temporelle
> 99 %
répétabilité
Flexible
mesure
Pour les plaquettes et les lingots
Mesures ponctuelles sur table
Le MDPspot est une solution abordable et compacte permettant la caractérisation tout au long du cycle de vie de divers semi-conducteurs à différentes étapes de préparation. Conçu sans automatisation intégrée, il offre une grande flexibilité pour des applications variées.
Conception économique : une option abordable pour des mesures fiables de la durée de vie.
Compatibilité polyvalente : convient à une large gamme d'échantillons de semi-conducteurs, des plaquettes minces aux matériaux plus épais, jusqu'aux briques de 156 mm.
Réglage optionnel de l'axe Z : un axe Z à commande manuelle est disponible pour une manipulation précise des échantillons plus épais.
Logiciel intuitif : logiciel standard inclus pour une visualisation et une analyse claires des résultats.
Rationalisez vos processus de mesure grâce à ce système efficace et facile à utiliser.
Applications
Spécifications techniques
| plaquettes de silicium mono ou poly, briques, cellules, plaquettes après différentes étapes de traitement telles que la passivation ou la diffusion | |
|---|---|
| taille des échantillons | supérieure à 50 x 50 mm² jusqu'à 12 pouces ou 210 x 210 mm² |
| résistivité | 0,2 - 10³ Ohm cm |
| matériau | plaques de silicium, briques, plaquettes partiellement ou entièrement traitées, semi-conducteurs composés et autres |
| propriétés mesurables | durée de vie des porteurs |
| dimensions | 360 x 360 x 520 mm, poids : 16 kg |
| alimentation | 110/220 V, 50/60 Hz, 3 A |
