MDP (photoconductivité détectée par micro-ondes) : sensible aux porteurs de charge photogénérés en mouvement (propriété intrinsèque)
SPV (phototension de surface) : sensible aux propriétés de surface ET de volume en ce qui concerne TOUS les porteurs de charge photogénérés séparés dans l'espace (en mouvement ou piégés)
La méthode MDP ne s'applique qu'aux semi-conducteurs modérément dopés ou aux cristaux optiques quasi parfaits
La méthode SPV s'applique à tous les matériaux photoactifs permettant la séparation des charges dans l'espace (semi-conducteurs, structures multicouches et à jonctions multiples, couches moléculaires, poudres)
La méthode MDP peut être modélisée comme une mesure de résistance dépendante du temps (DC), tMDP
La méthode SPV peut être modélisée comme une mesure de capacité dépendante de la fréquence et du temps (DC/modulation), tSPV
Pour un semi-conducteur non idéal (présentant des défauts), il peut y avoir une différence considérable entre les deux méthodes ; celles-ci fournissent toutes deux des informations complémentaires sur les propriétés du volume et de la surface
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