Évaluation de la qualité des cristaux par l'analyse de la réflexion XRD
La qualité d'un cristal ne peut être mesurée directement, mais plusieurs propriétés physiques peuvent être évaluées et comparées à des normes applicables aux cristaux purs et homogènes. L'une de ces propriétés est la demi-largeur d'un pic de diffraction des rayons X (XRD).
La régularité du réseau cristallin définit sa qualité. Des imperfections telles que des défauts, des dislocations et des contaminants sont inhérentes à tout réseau. D'autres discontinuités, comme les joints de grains et les fissures, existent également. Ces imperfections introduisent une contrainte locale au sein du réseau environnant, qui peut être détectée en enregistrant la courbe de balayage d'une réflexion aux rayons X.
En analysant les propriétés géométriques du faisceau incident et la largeur à mi-hauteur de la courbe de balayage qui en résulte, la qualité de surface du cristal peut être caractérisée de manière efficace.
Technologies associées: Oméga-scan
