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素材

HJT、HIT、TOPcon、両面PERC、PERC+太陽電池などに対応。

Si Perovskite and more

特長と利点

  • 寿命範囲:20 ns ~ 100 ms(抵抗率が 0.3 Ω・cm を超える試料の場合)

  • SEMI規格:PV9-1110

  • 測定速度:ライン
    <スキャンで30秒未満、全領域マッピングで5分

  • 以下の項目の同時測定:μPCD/MDP(QSS)の寿命および抵抗率

  • 自動形状認識:G12、M10ブリックおよびウェーハ

ご興味がありますか?当社の専門家が喜んでお手伝いします。

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技術仕様

材質単結晶シリコン
インゴットサイズ125 x 125~210 x 210 mm²、
インゴット長さ 850 mm 以上
ウェハサイズ直径300 mmまで
比抵抗範囲0.5~5 Ω・cm。その他の範囲については要相談
導電型p型、n型
測定可能な特性寿命 - μPCD/MDP (QSS)、光伝導度、抵抗率など
標準励起lR レーザーダイオード(980 nm、最大 500 mW)および IR レーザーダイオード(905 nm、最大 9000 mW)。
その他の波長はご要望に応じて対応可能
PCワークステーションWindows 11 以降、.NET Framework アップデート、イーサネットポート 2 つ
電源要件100~250 V AC、6 A
外形寸法(幅 × 高さ × 奥行2560 × 1910 × 1440 mm
重量約 200 kg
認証ISO 9001 ガイドラインに基づき製造、CE 適合

アクセサリーとオプション

当社のデバイスは、特定の要件に効果的に対応できるよう、多彩な設定オプションをご用意しています。各モデルはカスタマイズが可能で、最大限の柔軟性と効率性を実現します。

詳細についてはお問い合わせください

  • スポットサイズのばらつき

  • 抵抗率測定(レンガ/ウェハー)

  • バックグラウンド/バイアス光

  • 反射測定(MDP)

  • LBIC

  • p型ドープSiの内部鉄マッピング

  • P/N検出

  • バーコードリーダー

  • 自動形状認識

  • 幅広いレーザー

連絡先

ご質問やご要望がございましたら、お気軽にお問い合わせください。

お問い合わせフォームをご利用いただくか、メール(sales@freiberginstruments.com)にてご連絡ください。