素材
SDCOMを使用すれば、多種多様な材料を精密に分析することができます。当社のシステムは、その柔軟性と高性能により、最も厳しい要件にも応えることができます。
Ag Al₂O₃ (sapphire) AlSb Au CdTe GaAs GaN GaP GaPO₄ GaSb Ge InAs InP InSb La₃Ga₅SiO₁₄ LaTiO₃ LiF LiNbO₃ Mg₂SiO₄ MgAl₂O₄ MgF₂ MgO NdGaO₃ Ni PbS PbTe Pt Si SiC 2H SiC 4H SiC 6H SiC 15R SiC₃C SiO₂ (quartz) SnTe SrLaAlO₄ SrTiO₃ TiO₂ ZnO ZnTe and more
特長と利点
1 mm程度の極小結晶からそれ以上の大きさの試料まで測定可能
ワイヤーソーや研削などに対応した、多様な試料ホルダーおよび移送治具
結晶の横方向のマーキングオプション
水冷不要
最高精度：0.01°（結晶の品質による）
単結晶の完全な格子方位の決定
Omega-scan法を用いた超高速結晶方位測定
空冷式X線管、水冷不要
研究および生産品質管理に適しています
手動操作（自動化オプションなし）
Crystal orientation is determined by reflex position
suitable for a vast variety of materials
