オメガスキャン

オメガスキャン法では、試料を表面法線などの特定の軸を中心に360°回転させます。X線源と検出器は、1回転あたりの回折回数が最適になるよう、結晶の種類に応じて配置されます。これらの回折の角度位置を分析することで、回転軸に対する結晶格子の方位が決定されます。

格子方位を結晶表面と正確に一致させるため、レーザービームを用いて表面の方向を確認します。その他の関連する基準面や方向についても、光学機器を用いて測定することが可能です。この手法により、あらゆる配置の単結晶について正確な方位測定が可能となり、数秒程度の測定時間で、数秒角以内の再現性を実現します。

オメガスキャン法の特化した応用例として、特に立方晶系結晶における精密な格子定数の決定があり、これにより極めて高精度な構造解析が可能となる。