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薄い層や表面の高度な材料研究が可能:破壊がなく、柔軟で速い

  • 高度な電子検出システムにより高感度

  • 最大4つの異なる波長用にカスタマイズされたレーザーと光学系

  • 電荷分離プロセスと電子遷移(欠陥)の調査

素材

Si SiC Ge GaAs Ga₂O₃ InP Diamond and more

特長と利点

355-1550 nm

利用可能な波長

10ナノ秒

時間分解能

0.1 mm

空間分解能

< 5分未満

8インチウェーハのスループット

< 5分未満

8インチウェーハのスループット

  • 感度:サブmVレベルの感度と、3桁以上の信号振幅分解能

  • 測定速度:150 mmウェーハ(分解能1 mm)で5分未満

  • 時間分解能:10 ns~100 ms

  • 光学ヘッド:光学ヘッドに最大4つの光源を内蔵、または外部レーザーを取り付けるための固定具を装備 – 迷光抑制機能を内蔵

  • 信頼性:モジュール式でコンパクトな卓上型装置により、高い信頼性と99%以上の稼働率を実現

研究開発および生産監視のための柔軟なマッピングツール

HR-SPSmap製品プラットフォームは、広く高い評価を得ているMDPmapシリーズの確かな実績を基盤としています。 このコンパクトな卓上型非接触電気特性評価装置は、オフライン生産管理および研究開発用途向けに特別に設計されています。広範囲の注入領域にわたる表面光起電力(SPV)を測定し、定常状態および短パルス励起の両方に対応しています。 サンプルの自動認識とパラメータ設定機能により、成長直後の材料から完全に製造されたデバイスに至るまで、さまざまな処理段階のエピタキシャル層やウェハーなど、多種多様なサンプルに容易に対応します。

卓越した柔軟性と高度な機能

HR-SPSmap の際立った利点の一つは、その卓越した柔軟性です。 固定エネルギーの励起光源を装備し、測定ヘッド内に最大 4 台のレーザーを統合することができます。この機能により、非常に低い注入レベルから高い注入レベルまで、幅広い範囲で注入レベル依存の SPV 測定が可能になり、異なるレーザー波長を用いた深さプロファイリングも実現します。また、測定オプションを強化するためのバイアス光機能も備えています。

さらに、HR-SPSmapはカスタム計算やマッピング構成に対応しているほか、詳細な外部分析のために生データをエクスポートする機能も備えています。標準的な計測タスクについては、プラットフォームが事前定義されたレシピシステムを提供しており、日常的な測定をワンボタン操作で完了させることができます。

精度と適応性を解き放つ

その高度な機能とユーザーフレンドリーな設計により、HR-SPSは高精度な表面光起電力の測定を求める研究者や生産チームにとって理想的なソリューションです。研究開発におけるイノベーションであれ、信頼性の高い生産モニタリングであれ、このプラットフォームは電気的特性評価における柔軟性と効率性を再定義します。

ご興味がありますか?当社の専門家が喜んでお手伝いします。

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技術仕様

サンプルサイズ直径300 mmまでの粉末試料
励起337 nm から 1550 nm までの範囲から最大 4 つの異なる波長を選択可能(デフォルトは 980 nm)
測定対象あらゆる光活性物質(ご使用の材料に関するご相談は弊社までお問い合わせください)
測定可能時間分解表面光起電力測定
外形寸法680 x 380 x 450 mm、重量:約65 kg
電源100~250V、50/60 Hz、5 A
解像度100 µm

アクセサリーとオプション

当社のデバイスは、特定の要件に効果的に対応できるよう、多彩な設定オプションをご用意しています。各モデルはカスタマイズが可能で、最大限の柔軟性と効率性を実現します。

詳細についてはお問い合わせください

  • 337 nmから1550 nmまでの幅広い波長範囲のレーザー光源

  • 一体型加熱ステージ(20~250°C)

  • スポットサイズの変動

  • バイアス光

  • 抵抗率測定(ウェーハ

  • 基準ウェーハ(Si)

連絡先

ご質問やご要望がございましたら、お気軽にお問い合わせください。

お問い合わせフォームをご利用いただくか、メール(sales@freiberginstruments.com)にてご連絡ください。