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高濃度ドープ試料用の高速で信頼性の高い比抵抗マッピングツール

  • 卓越した繰返し精度(シグマ < 0.15)

  • 先進安定性センサー

  • シームレスなインライン統合と容易なキャリブレーション

素材

RESmapは、高濃度ドーピング材料を専門としています。

Si SiC and more

特長と利点

シグマ
< 0.15 %

極めて高い再現性

抵抗率
1-100

mΩ cm

スループット
> 20

ウェハー/時間

± 5 %

温度補正による精度

± 5 %

温度補正による精度

  • 卓越した再現性
    :標準偏差0.15%未満という超高精度を実現し、一貫性のある信頼性の高い測定結果を保証します。

  • 高度な安定性を備えたセンサー
    :距離センサーと温度センサーを内蔵し、優れた測定精度と安定性を維持します

  • シームレスなインライン統合
    :完全自動化されたコンパクトなセンサーとして利用可能で、スムーズかつ効率的なインライン用途に最適

  • 簡単な校正
    :専用のサンプルセットを使用して簡単かつ安定した校正が可能で、セットアップ時間を短縮し、長期的な信頼性を確保します。

  • 抵抗
    率の非接触測定およびイメージング 高周波渦電流検知原理と、試料の温度変動を補正する内蔵IR温度センサーを採用

  • 材料の形状:
    平坦またはわずかに湾曲したウェーハ、ブール、インゴット、スラブ、ブランク、および薄膜

  • X-Y配置分解能:0.1 mm以上

  • エッジ除外 5 mm

  • 信頼性
    :モジュール式でコンパクトな卓上型設計により、高い信頼性と99%以上の稼働率を実現

  • 測定時間
    <:測定に 3 秒、測定間の間隔は 1 秒未満

  • 測定速度
    < 200 mm ウェーハ/インゴット、9 ポイントで 30 秒

RESmap は、比類のない再現性、安定性、精度を備えているため、さまざまな材料の正確な比抵抗マッピングに最適です。

クリスティアン・ハーゲンドルフ博士
キーアカウントマネージャー

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自動化に対応利用可能な各種プラットフォーム
測定方法はSEMI MF673に準拠
NIST標準を用いてNIST標準を用いて
校正範囲内での±1%
標準温度での抵抗率を報告できるように標準温度での抵抗率を報告可能(試料の実際の温度とは異なる)
高周波信号の浸透深度が試料の浸透深度よりも大きい試料に対する高周波信号の浸透深度が浸透深度よりも大きい試料用
電源要件100~250 VAC、5 A
外形寸法(幅×高さ×奥行き)465 x 550 x 600 mm
ソフトウェア制御Windows 10 以降を搭載した標準的な PC、イーサネットポート 2 つ

ユーザーフレンドリーで高度な操作ソフトウェア

  • 比抵抗測定の手順

  • エクスポート/インポート機能および生データへのアクセス

  • 多階層ユーザーアカウント管理

  • すべての測定結果の概要

  • マッピングオプション(ライン、クロス、スター、フルマップ、トポグラフィ、ユーザー定義パターン)

  • 解析機能パッケージ:統計、分散分析、温度補正機能およびライブラリ

  • リモートアクセス:インターネットベースのシステムにより、世界中どこからでも遠隔操作や技術サポートが可能

 

連絡先

ご質問やご要望がございましたら、お気軽にお問い合わせください。

お問い合わせフォームをご利用いただくか、メール(sales@freiberginstruments.com)にてご連絡ください。