使用 EMCCD 进行空间分辨单晶粒分析
紫外至近红外（200–1050 nm）成像检测，用于空间分辨/单晶粒测量
可在 TL/OSL 或 RF 测量位置运行
512 x 512 像素背照式、带紫外涂层的 EMCCD 芯片（电子倍增 – EM – 技术），16 位分辨率，帧转移格式
也可在传统CCD模式下工作（低噪声）
最高帧率：> 33 帧/秒（全帧）
千兆以太网数据接口
从紫外线到近红外线的高量子效率：在紫外线石英 OSL 发射峰值处约为 50%；在所有可见光石英/长石发射峰值处约为 85-90%；在钾长石近红外 RF 峰值（865 nm）处约为 60
直径约 8 毫米的样品成像在相机芯片上（约 16 μm / 像素）
包含机电快门
TE 制冷最低 -95 °C（终身保证 -70 °C），恒温精度 ± 0.05°C
集成到 lexsyg 测量控制软件中