配置选项

探测器更换装置为全自动软件控制。它可在TL/OSL和RF（β射线辐照）位置之间容纳并更换多达四种不同的探测器，例如标准PMT、红光PMT、EMCCD、光谱检测单元等。   

低温条件用于辐射缺陷表征。该系统能够将样品温度稳定维持在-40 °C至-50 °C之间，同时可在数秒内自动切换至高温条件，最高可加热至710 °C。最低温度：约 -50 °C, 推荐最低温度：-40 °C, -40 °C 可稳定维持 > 60 分钟, 冷却可与辐照、OSL、TL、RF、太阳模拟等工艺结合使用 , 注：珀尔帖制冷单元需配备真空泵及氮气氛围

与标准IRSL相比，K长石产生的IRPL信号被认为可能不受衰减影响，但即使受影响，程度也肯定要小得多（Prasad等人，2017）。它还具有更宽的剂量范围，因此可用于对古老样本进行定年。 Lexsyg TL/OSL读片仪已集成对两种发射（880 nm和955 nm）所需的脉冲激发与检测功能，由于该测量具有非破坏性，因此能够实现非常精确的测量。 然而，并非所有样品都会显示955…

该模块可用于估算长石样品的矿物组成。除估算钾长石、钠长石和钙长石的相对比例外，还可评估可能存在的石英杂质。  XRF装置由以下部分组成：,   配备SDD探测器的Amptek X-123全套X射线光谱仪Amptek MINI-X USB控制X射线管, XRF分析软件扩展：,…

紫外至近红外（200–1050 nm）成像检测，用于空间分辨/单晶粒测量, 可在 TL/OSL 或 RF 测量位置运行, 512 x 512 像素背照式、带紫外涂层的 EMCCD 芯片（电子倍增 – EM – 技术），16 位分辨率，帧转移格式, 也可在传统CCD模式下工作（低噪声）, 最高帧率：> 33 帧/秒（全帧）, 千兆以太网数据接口,…

该样品相机旨在在完成发光测量后自动记录样品的外观。例如：荧光数据采集后的目视检查, 利用图像分析确定例如颗粒数量、覆盖面积、粒度分布、颜色分布, 该相机安装于一个机械固定装置中，该装置具有真空密封和光密闭特性，并配备漫射照明系统，以确保被拍摄样品获得适当的白光照明。  相机技术参数：, TheImagingSource 1/2.5英寸 Micron CMOS…

基于OE-CCD的高灵敏度光谱检测单元（推荐用于红外光谱分析）, 光纤耦合CCD荧光发射光谱仪, TE制冷（最低-80 °C）CCD探测器，波长范围200–1050 nm，16位数字化, 光栅更换和波长重新校准简便，可选择单个光栅, 功能强大的光谱分析软件, 可集成到 Lexsyg 测量控制软件中, 基于 BU-CCD 的高灵敏度光谱检测单元（推荐用于紫外光谱）, 1024 x 255…

特点, 基于大功率LED阵列的照明照射器，风冷式, 完全由软件控制（功率、照射时间、混合比例——如适用）, 在测量序列中可调整各项设置, 采用特殊光学系统，确保样品上光照强度均匀, 可在高温下进行褪色测试 , 基于 LED 的褪色/太阳光模拟装置, 波长：365 nm、462 nm、523 nm、590 nm、625 nm、850 nm,…

用于荧光寿命基础研究，以及通过脉冲激发分离不同寿命荧光信号的模块。  激光二极管规格：, 上升/下降时间：< 10 ns, 导通时间：50 ns 至连续波, 瞬态检测系统：, 时间步长：2.5 ns 至 1 s, 时间点精度：< 50 ps, 可选7个数量级的对数时间刻度（可同时测量极短和极长的瞬态）, 测量系统在计数率低于 150 MHz 时无任何限制,