电位诱导退化（PID）是光伏（PV）电站面临的一个重大可靠性问题。在生产流程的早期阶段评估产品对PID的敏感性至关重要。PIDcon系统旨在帮助制造商在生产链的尽早阶段对产品进行测试，并对封装材料进行评估。
PIDcon 支持对标准量产电池进行常规质量控制，测试新工艺、材料或层间差异，并为各类组件生产步骤提供认证依据。此处所指的 PID 涉及由高压应力诱导的漏电流（PID-s）导致的太阳能电池短路现象。
PIDcon的结构几乎完全符合IEC标准（见图1）。由太阳能电池、EVA薄膜和玻璃组成的样品堆叠模拟了太阳能组件。该方法既可测试太阳能电池，也可测试封装材料。 图2展示了对易受PID影响的太阳能电池进行典型PIDcon测量的示意图。
PIDcon相较于传统组件测试的关键优势
无需气候试验箱
可在生产链早期进行测量
适用于研究和常规生产质量控制
测试时间短（通常为 4 到 8 小时）
分流电阻的测量与记录，并估算功率损耗
Fig. 1: measurement setup of a PIDcon
Fig. 2: typical result of a PIDcon measurement
