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使现有设备能够达到 200 毫米和 300 毫米铸锭的高端外径/缺口规格
使现有设备达到高端外径/缺口规格
真正符合晶圆厂要求的在线晶圆方向映射
用于超快晶体定向、生产中的晶体对准、质量控制、摇摆曲线测量、材料研究等
超快、底面测量晶体取向的紧凑型封装
超快顶面测量晶体取向,采用紧凑型封装
全自动在线定位和处理铸锭、铸锭块和铸锭球
Fully automated wafer, seed wafer and boule quality control and…
石英棒、晶片和坯料的生产与质量控制
该产品即将推出
高精度电阻率Mapping系统 精准实现材料分析
超越极限的精度:面向电阻率测量的下一代太赫兹Mapping技术
高精度少子寿命表征,检测灵敏度出众
简易快速完成少子寿命检测
多功能 OEM 设备,用于测量硅样品(从硅砖到加工晶片)的使用寿命
用于半导体质量控制和材料研发的先进寿命测量系统
先进的单晶硅锭、硅砖和硅片质量控制解决方案
用于先进材料分析的温度相关寿命测量系统
用于精确材料表征的高分辨率、随温度变化的寿命测量系统
用于材料深度分析的先进高温寿命测量系统
通过热释电效应确定晶体表面极性的移动系统
高分辨率、高灵敏度的表面光电电压测量解决方案
配备可调能量激发光源
专为集成到手套箱中而设计,可加热至 100°C,高分辨率,高灵敏度表面电压测量
宽波段双棱镜单色仪
专为智能生产环境设计的 GWh 级电池化成和测试
利用智能测量驱动的过程控制进行中试规模的电池化成和测试
集成传感和先进的充电控制,实现智能化、测量驱动的电池组装
双面 PERC/PERC+、HIT、Topcon、晶体硅太阳能电池、迷你模块等的质量控制解决方案
最灵敏的 TL/OSL 读取器
最先进的 TL/OSL 阅读器
便携式 OSL 读取器,设计用于高效读取和*擦除兼容的剂量计
最先进的个人剂量测定 OSL 系统
Freiberg Instruments 的现代 TLD 阅读器
即使在极端条件下也能进行高精度吸附测量的磁悬浮天平
用于聚合物和半导体分拣的全自动高灵敏度拉曼传感器
辐射污染监测仪
用于测量集装箱的空间分辨探测杆
高量程剂量率仪
配备 50 毫米 PIPS 检测器的便携式设备;符合 ISO 11929 标准的浓度计算方法
伽马辐射监测仪
为 lexsyg smart
lexsyg TL/OSL 读取器最多可配备 2 个辐照单元。由气压驱动的传感器控制机械快门,确保操作具有可重复性、简便且安全。
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陶瓷加热元件可确保测量结果高度可靠且更加稳定。该加热元件通过氮气或压缩空气的连续流动进行冷却。在加热/冷却周期的任何阶段,均可进行热致发光(TL)、预热(PH)——包括高温发光测量(OSL、RL、 等)以及高温辐照(在电离辐射和“太阳光”位置) 均可在加热/冷却 周期的任何阶段进行,该周期几乎可自由编程,包括非线性加热/冷却功能。升温速率:0.1 - 20.0 °C/s(@Tmax=…
所有 lexsyg smart 和 lexsygresearch TL/OSL 阅读器均可配备可互换的 OSL 单元,该单元最多可包含三个激发波长。这些波长由高功率激发 LED 或激光二极管提供。 集成光电二极管可为每个独立元件提供功率控制反馈,从而确保刺激光源的稳定性,且不受元件老化影响。
根据 Chruścińska 等(2018)以及 Palczewski 与 Chruścińska(2019)的研究,在 620 nm 波长下对石英进行激发,可在热光激发(TM-OSL)模式下分离出快速 OSL 成分。 Lexsyg TL/OSL读卡器现已支持620 nm红光OSL。 Chruścińska, A. Szramowski, A. 与石英中 OSL 信号快速分量相关的热调制…
滤光轮配备了经过优化的滤光片,旨在最大限度地收集荧光光,并最大限度地抑制散射光(OSL、PL)和热噪声(TL),推荐作为进行定年及其他应用中优化TL/OSL/RF分析的最低配置。 专为PMT荧光测量设计的高效集光光学系统, 测量过程中可编程地切换检测窗口(滤光片切换时间在 300 毫秒至 3 秒之间), 滤光片的选择受软件限制,取决于所选的激发波长,从而防止故障(过曝),…
标准紫外-可见光光电倍增管(PMT)单元(280 – 650 nm), 用于荧光测年和剂量测定的标准检测单元, 双碱阴极光电倍增管(HAMAMATSU H7360-02), 灵敏度范围:300–650 nm, 峰值灵敏度:420 nm(3.1×10⁵ 计数/s·pW⁻¹), 暗计数典型值 <100 cts, 光子计数器, 计数线性度(随机脉冲,10% 损耗)6.0×10⁶ cps,…
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