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Materialien

Für HJT-, HIT-, TOPcon-, bifaciale PERC-, PERC+-Solarzellen und mehr.

Si Perovskite and more

Eigenschaften & Vorteile

  • Lebensdauerbereich: 20 ns bis 100 ms (für Proben > 0,3 Ohm·cm)

  • SEMI-Standard: PV9-1110

  • Messgeschwindigkeit: < 30 s für Zeilenscan
    <, 5 min für vollständige Kartierung

  • Gleichzeitige Messung von: Lebensdauer μPCD/MDP (QSS) und spezifischem Widerstand

  • Automatische Geometrieerkennung: G12-, M10-Bausteine und Wafer

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Technische Daten

Materialmonokristallines Silizium
Ingotgrößezwischen 125 x 125 und 210 x 210 mm²,
Blocklänge 850 mm oder länger
Wafergrößebis zu 300 mm Durchmesser
Widerstandsbereich0,5 – 5 Ohm·cm. Andere Bereiche auf Anfrage
Leitfähigkeitstypp, n
Messbare EigenschaftenLebensdauer – μPCD/MDP (QSS), Photoleitfähigkeit, spezifischer Widerstand und mehr
Standard-AnregungIR-Laserdiode (980 nm, max. 500 mW) und IR-Laserdiode (905 nm, max. 9000 mW).
Andere Wellenlängen sind auf Anfrage erhältlich
PC-ArbeitsplatzWindows 11 oder neuer, .NET Framework-Update, 2 Ethernet-Anschlüsse
Stromversorgung100 – 250 V AC, 6 A
Abmessungen (B × H × T)2560 × 1910 × 1440 mm
Gewichtca. 200 kg
ZertifizierungHergestellt nach ISO 9001, CE-konform

Zubehör & Konfigurationsmöglichkeiten

Unsere Geräte bieten vielseitige Konfigurationsmöglichkeiten, um spezifische Anforderungen effektiv zu erfüllen. Jedes Modell kann individuell angepasst werden, um maximale Flexibilität und Effizienz zu gewährleisten.

Kontaktieren Sie uns für weitere Informationen

  • Schwankungen der Spotgröße

  • Widerstandsmessung (Ziegel/Wafer)

  • Hintergrund-/Bias-Licht

  • Reflexionsmessung (MDP)

  • LBIC

  • Interne Eisenkartierung von p-dotiertem Si

  • P/N-Erkennung

  • Barcodeleser

  • Automatische geometrische Erkennung

  • Breites Spektrum an Lasern

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Zögern Sie nicht, uns zu kontaktieren – wir stehen Ihnen bei allen Fragen und Anliegen gerne zur Verfügung.

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sales@freiberginstruments.com