Die Visualisierung der Halbleiterqualität erfolgt mithilfe hochmoderner Mikrowellentechniken. Diese ermöglichen die berührungslose Erfassung wichtiger elektrischer Halbleiterparameter bei Produktionsgeschwindigkeit.
Die Messung von Parametern wie der Minoritätsträgerlebensdauer, der Photoleitfähigkeit, dem spezifischen Widerstand und Defektinformationen kann durch eine bislang unübertroffene Kombination aus räumlicher Auflösung, Empfindlichkeit und Messgeschwindigkeit erfasst werden.
Von OEM-Modulen bis hin zu schlüsselfertigen Systemen passt sich die MDP-Serie Ihrem Arbeitsablauf an – und unterstützt so Ihre nächste Innovation in der Mikroelektronik und Photovoltaik.
