SDCOM

Ultra-schnelle, oberflächenmessende Kristallorientierung in einem kompakten Gehäuse

Exklusiv durch Malvern Panalytical

Produktblatt

Materialien

Mit SDCOM lässt sich eine Vielzahl von Materialien präzise analysieren. Dank ihrer Flexibilität und Leistungsfähigkeit erfüllen unsere Systeme selbst die anspruchsvollsten Anforderungen.

Ag Al₂O₃ (sapphire) AlSb Au CdTe GaAs GaN GaP GaPO₄ GaSb Ge InAs InP InSb La₃Ga₅SiO₁₄ LaTiO₃ LiF LiNbO₃ Mg₂SiO₄ MgAl₂O₄ MgF₂ MgO NdGaO₃ Ni PbS PbTe Pt Si SiC 2H SiC 4H SiC 6H SiC 15R SiC₃C SiO₂ (quartz) SnTe SrLaAlO₄ SrTiO₃ TiO₂ ZnO ZnTe and more

Eigenschaften & Vorteile

Möglichkeit zur Messung sehr kleiner Kristalle bis zu einer Größe von 1 mm oder größerer Proben
Vielzahl von Probenhaltern und Transfervorrichtungen für Drahtsäge, Schleifen usw.
Markierungsoption für die seitliche Kristallausrichtung
Keine Wasserkühlung
Höchste Präzision: 0,01° (abhängig von der Kristallqualität)
Bestimmung der vollständigen Gitterorientierung von Einkristallen
Ultraschnelle Kristallorientierungsmessung mittels Omega-Scan-Verfahren
Luftgekühlte Röntgenröhre, keine Wasserkühlung erforderlich
Geeignet für Forschung und Qualitätskontrolle in der Produktion
Manuelle Bedienung (keine Automatisierungsoption)