Stangenausrichtung, Waferanalyse und Rohlingsortierung mit einem Röntgendiffraktometer
Messgeschwindigkeit von nur 2 s (AT-Quarz)
Höchste Genauigkeit ≤ 10 Bogensekunden Standardabweichung
Räumliche Auflösung 1 mm ± 0,1 mm
Eigenschaften & Vorteile
Die Quartz XRD-Serie
Herstellungsprozess vom Barren zum Rohling


Wir bauen seit Jahrzehnten XRD-Systeme für die Quarzindustrie - einige davon laufen seit über 20 Jahren rund um die Uhr. Diese Stabilität liefert bei jeder Schicht konsistente, rückverfolgbare Ergebnisse.
Dr. Ing. Hans-Arthur Bradaczek
Leiter der Röntgentechnik




