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Materialien

Mit XRD-OEM lässt sich eine Vielzahl von Materialien präzise analysieren. Dank ihrer Flexibilität und Leistungsfähigkeit erfüllen unsere Systeme selbst die anspruchsvollsten Anforderungen.

Si SiC GaAs and more

Eigenschaften & Vorteile

Barren
> 75 mm

Durchmesser

flach/gekerbt

Erkennung

große Barren
Voreinstellung

vor dem Sägen/Schleifen

Ultraschnell

Messung der Kristallorientierung

Ultraschnell

Messung der Kristallorientierung

  • Bereit für die Integration in jedes Automatisierungs- oder Verarbeitungssystem

  • Konzipiert für raue Umgebungen (Schleifen, Sägen)

  • Kompakt, mit standardmäßigen industriellen Schnittstellen

  • Unabhängige Ausrichtungsmessung

  • Messungen auf ebenen Flächen oder an Umfangsflächen

  • Optische Kerbenerkennung

Anwendungen


Ausrichtung von Siliziumblöcken:

  • Erkennung der Position von Flächen und Kerben vor dem Schleifen

  • Durchmesser > 75 mm

  • Länge > 20 mm

XRD-OEM - Exklusiv bei Malvern Panalytical

Dieses Produkt wird von unserem bewährten Partner vertrieben.

Kontakt für Demo

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