Ermöglicht eine schnelle und einfache Bewertung der Lebensdauer an einem einzigen Punkt
Ein-Punkt-Messung
Wafer und Barren
Flexibles, kostengünstiges Werkzeug
Materialien
Entdecken Sie mit MDPspot eine beispiellose Einfachheit und Schnelligkeit bei der lebenslangen Charakterisierung nahezu aller Halbleiter – entwickelt, um Ihren Arbeitsablauf zu optimieren, ohne dabei Abstriche bei der Genauigkeit zu machen.
Eigenschaften & Vorteile
355-1550 nm
Verfügbare Wellenlängen
10 ns
Zeitauflösung
> 99 %
Wiederholbarkeit
Flexibel
Messung
Für Wafer und Ingots
Einzelpunktmessungen auf dem Labortisch
Der MDPspot ist eine kostengünstige und kompakte Lösung zur Lebensdauerbestimmung verschiedener Halbleiter in unterschiedlichen Präparationsstadien. Da er ohne integrierte Automatisierung konzipiert ist, bietet er Flexibilität für vielfältige Anwendungen.
Kostengünstiges Design: Eine budgetfreundliche Option für zuverlässige Lebensdauermessungen.
Vielseitige Kompatibilität: Geeignet für eine Vielzahl von Halbleiterproben, von dünnen Wafern bis hin zu dickeren Materialien mit einer Dicke von bis zu 156 mm.
Optionale Z-Achsen-Verstellung: Eine manuell bedienbare Z-Achse ist für die präzise Handhabung dickerer Proben verfügbar.
Intuitive Software: Im Lieferumfang enthaltene Standardsoftware für eine übersichtliche Visualisierung und Analyse der Ergebnisse.
Optimieren Sie Ihre Messprozesse mit diesem effizienten und benutzerfreundlichen System.
Anwendungen
Technische Daten
| Mono- oder Multikristall-Siliziumwafer, Bricks, Zellen, Wafer nach verschiedenen Verarbeitungsschritten wie Passivierung oder Diffusion | |
|---|---|
| Probengröße | über 50 x 50 mm² bis zu 12“ oder 210 x 210 mm² |
| spezifischer Widerstand | 0,2 – 10³ Ohm cm |
| Material | Siliziumwafer, Bricks, teilweise oder vollständig bearbeitete Wafer, Verbindungshalbleiter und mehr |
| Messbare Eigenschaften | Trägerlebensdauer |
| Abmessungen | 360 x 360 x 520 mm, Gewicht: 16 kg |
| Stromversorgung | 110/220 V, 50/60 Hz, 3 A |
