재료
SDCOM을 사용하면 다양한 재료를 정밀하게 분석할 수 있습니다. 뛰어난 유연성과 성능 덕분에 당사의 시스템은 가장 까다로운 요구 사항도 충족합니다.
Ag Al₂O₃ (sapphire) AlSb Au CdTe GaAs GaN GaP GaPO₄ GaSb Ge InAs InP InSb La₃Ga₅SiO₁₄ LaTiO₃ LiF LiNbO₃ Mg₂SiO₄ MgAl₂O₄ MgF₂ MgO NdGaO₃ Ni PbS PbTe Pt Si SiC 2H SiC 4H SiC 6H SiC 15R SiC₃C SiO₂ (quartz) SnTe SrLaAlO₄ SrTiO₃ TiO₂ ZnO ZnTe and more
기능 및 장점
1mm 크기의 매우 작은 결정부터 더 큰 시료까지 측정 가능
와이어 톱, 연삭 등을 위한 다양한 시료 홀더 및 이송 장치
결정 측면 방향 표시 옵션
수냉 방식 없음
최고 정밀도: 0.01° (결정 품질에 따라 다름)
단결정의 전체 격자 방향 측정
오메가 스캔(Omega-scan) 방식을 이용한 초고속 결정 방향 측정
공랭식 X선 튜브, 수냉식 불필요
연구 및 생산 품질 관리에 적합
수동 조작 (자동화 옵션 없음)
Crystal orientation is determined by reflex position
suitable for a vast variety of materials
