배경: 브래그 방정식
표면 배향 결정을 위한 일반적인 XRD 방법은 브래그 방정식에 기초합니다:
2⋅d⋅sin(θ) = n⋅λ
이는 X선 파장 λ, 격자면 간격 d, 그리고 반사 각도 θ 간의 관계를 나타냅니다. n은 반사의 회절 차수를 나타냅니다.
관련 적용 분야: 크리스탈 표면 방향 매핑, 결정형 터빈 블레이드의 3D 매핑, 자동 웨이퍼 분류
세타 스캔
단결정 오리엔테이션을 위한 정밀 X-선 방법
단결정 오리엔테이션을 위한 정밀 X-선 방법
표면 배향 결정을 위한 일반적인 XRD 방법은 브래그 방정식에 기초합니다:
2⋅d⋅sin(θ) = n⋅λ
이는 X선 파장 λ, 격자면 간격 d, 그리고 반사 각도 θ 간의 관계를 나타냅니다. n은 반사의 회절 차수를 나타냅니다.
관련 적용 분야: 크리스탈 표면 방향 매핑, 결정형 터빈 블레이드의 3D 매핑, 자동 웨이퍼 분류
