전위 유도 열화(PID)는 태양광 발전소에서 중대한 신뢰성 문제를 야기하므로, 제품의 PID 취약성을 평가하는 것이 필수적입니다. PIDcon 시스템을 통해 제조업체는 생산 공정의 초기 단계인 태양전지 단계부터 제품을 테스트할 수 있을 뿐만 아니라, 캡슐화 소재도 함께 평가할 수 있습니다. 이를 통해 EVA 및 유리의 영향과 별개로 태양전지와 그 SiNx 층을 독립적으로 조사할 수 있습니다. 여기서 고려하는 PID 유형은 고전압 응력에 의한 누설 전류(PID-s)로 인해 태양전지가 단락되는 현상을 포함합니다.
태양전지를 효과적으로 분류하기 위해서는 민감한 EVA 및 유리 소재를 사용하여 태양전지 자체가 전체 스택의 PID 취약성에 영향을 미치는 핵심 요소가 되도록 하는 것이 중요합니다. 실제 모듈과의 비교 가능성을 높이기 위해 측정 전에 라미네이션 단계를 추가할 수 있습니다. 태양전지는 금 접점 핀을 사용하여 연결되며, 이 핀은 아일랜드 버스바의 경우에도 버스바 설계에 맞게 조정할 수 있습니다.
PIDStudio 소프트웨어를 사용하면 테스트에 대한 합격/불합격 기준을 설정할 수 있으며, IEC 표준과 Fraunhofer CSP 과학자들의 통찰력을 바탕으로 기본값을 제안합니다.
Fig. 1: Solar cell with EVA foil and glass placed in a PIDcon
