Potential Induced Degradation (PID) ist ein wesentliches Zuverlässigkeitsproblem in Photovoltaik-Kraftwerken (PV). Es ist von entscheidender Bedeutung, die Anfälligkeit von Produkten für PID bereits in einer frühen Phase des Produktionsprozesses zu bewerten. Das PIDcon-System wurde entwickelt, um Herstellern dabei zu helfen, ihre Produkte zu testen und Verkapselungsmaterialien so früh wie möglich in der Produktionskette zu bewerten.
PIDcon ermöglicht die routinemäßige Qualitätskontrolle für Standard-Produktionszellen, die Prüfung neuer Prozesse, Material- oder Schichtvariationen sowie die Qualifizierung für verschiedene Schritte der Modulproduktion. Die hier gemeinte PID beinhaltet die Kurzschaltung von Solarzellen, verursacht durch hochspannungsbedingte Leckströme (PID-s).
Der Aufbau des PIDcon entspricht nahezu dem IEC-Standard (siehe Abbildung 1). Der Probenaufbau, bestehend aus einer Solarzelle, einer EVA-Folie und Glas, simuliert ein Solarmodul. Diese Methode ermöglicht die Prüfung sowohl von Solarzellen als auch von Verkapselungsmaterialien. Abbildung 2 veranschaulicht eine typische PIDcon-Messung einer PID-empfindlichen Solarzelle.
Wesentliche Vorteile des PIDcon gegenüber herkömmlichen Modultests
Keine Klimakammer erforderlich
Frühzeitige Messung in der Produktionskette
Geeignet sowohl für die Forschung als auch für die routinemäßige Qualitätskontrolle in der Produktion
Kurze Testdauer (typischerweise 4 bis 8 Stunden)
Messung und Aufzeichnung des Shunt-Widerstands mit Abschätzung des Leistungsverlusts
Fig. 1: measurement setup of a PIDcon
Fig. 2: typical result of a PIDcon measurement
