Der Kartierungstisch ermöglicht die Untersuchung der gesamten Probenoberfläche anhand eines kontrollierten Rastermusters. Ein Omega/Theta XRD-Gerät lässt sich problemlos mit dem zusätzlichen xy-Positioniertisch auf dem Drehteller kombinieren. Die Probenoberfläche kann nach einem benutzerdefinierten Raster abgetastet werden. Der minimale Rasterabstand beträgt aufgrund der Größe des Röntgenflecks auf der Probe etwa 1 mm.
Der Mapping-Tisch kann mit Omega Scan kombiniert werden, um eine Kartierung der Kristallorientierung zu erhalten, oder mit der Rocking-Curve-Messung, um eine Kartierung von Verformungen auf der Oberfläche zu erhalten. Softwarepakete zur Darstellung und Analyse sind verfügbar.
